美科學(xué)家利用納米裝備技術(shù)生產(chǎn)出強(qiáng)聚焦軟X光 (2005-08-01)
發(fā)布時(shí)間:2007-12-04
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隨著納米科學(xué)和納米技術(shù)的進(jìn)步,人們已經(jīng)不滿足于掃描物體表面,而是把目光投向探究生物有機(jī)體的內(nèi)部深層結(jié)構(gòu)和物質(zhì)的結(jié)構(gòu),從而得以分析出其組成成分?同時(shí),也促進(jìn)了電子學(xué)、電磁學(xué)、光學(xué)和化學(xué)等學(xué)科的進(jìn)步。
為了測(cè)量形態(tài)、構(gòu)成、磁力、偏振或化學(xué)成分等方面納米層次的內(nèi)部變化,X光顯微鏡不僅可以補(bǔ)充電子顯微鏡的不足,而且具有更多的優(yōu)勢(shì)。位于美國(guó)能源部勞倫斯伯克利國(guó)家實(shí)驗(yàn)室高級(jí)光源的XM-1型X光顯微鏡,使用明亮的光束一“軟”X光制得的圖像不僅顯示出了結(jié)構(gòu),而且可以分析鑒定出它們的化學(xué)元素,并同時(shí)測(cè)量它們的電磁特性和其他性質(zhì)。
現(xiàn)在一種新型的在納米層級(jí)上創(chuàng)造光學(xué)設(shè)備的方法使得伯克利實(shí)驗(yàn)室X光光學(xué)中心(CXRO)的研究人員可以建造和操作XM-1型X光顯微鏡來(lái)獲得超高分辨率的圖像,甚至可以超過15納米的精度,同時(shí)研究人員在近期之內(nèi)可以取得更高分辨率,伯克利實(shí)驗(yàn)室材料科學(xué)小組的晁偉倫(音譯)說(shuō),我們的這項(xiàng)新技術(shù)使得超小三維結(jié)構(gòu)的裝配成為可能。我們相信這是通過電子束平版印刷術(shù)實(shí)現(xiàn)微型裝配技術(shù)上一大突破。